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      RTX50系顯卡曝致命缺陷:關(guān)鍵區(qū)域過熱危及使用壽命

      2025-04-28 13:27:10
      來源:
      播報(bào)04月28每日電訊 知名硬件分析師 Igor Wallossek 旗下的 Igor's Lab 近日發(fā)布報(bào)告,揭示了英偉達(dá)RTX 50 系列顯卡可能存在一個(gè)潛在的硬件缺陷:關(guān)鍵供電區(qū)域的溫度過高問題
      。如果問題得不到解決
      ,這可能威脅到這些新一代顯卡的穩(wěn)定性和長(zhǎng)期使用壽命

      Igor's Lab 的團(tuán)隊(duì)通過熱成像和細(xì)致測(cè)試

      ,在顯卡 PCB 上
      ,特別是在電壓調(diào)節(jié)模塊(VRMs)附近
      ,發(fā)現(xiàn)了局部的高溫?zé)狳c(diǎn)
      。分析認(rèn)為,供電子系統(tǒng)中的電子元件(如 FETs
      、電感線圈等)為了追求緊湊的 PCB 設(shè)計(jì)
      ,被放置得過于靠近,犧牲了散熱空間
      ,加劇了熱密度。

      測(cè)試數(shù)據(jù)顯示令人擔(dān)憂

      。在一項(xiàng)對(duì)比測(cè)試中
      ,PNY RTX 5070 和 Palit RTX 5080 Gaming Pro OC 顯卡的 VRM 區(qū)域溫度表現(xiàn)不一。RTX 5080 的 VRM 區(qū)域測(cè)得溫度為 80.5°C
      ,而 RTX 5070 在同一區(qū)域的溫度飆升至驚人的 107.3°C
      ,遠(yuǎn)超長(zhǎng)期安全運(yùn)行的范圍。這可能與 RTX 5070 相對(duì)較短的 PCB 設(shè)計(jì)導(dǎo)致供電元件更集中有關(guān)

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      報(bào)告指出

      ,這并非個(gè)例,該缺陷似乎影響了基于當(dāng)前設(shè)計(jì)的所有 RTX 50 系列 GPU
      。Igor's Lab 推測(cè)
      ,問題根源可能在于英偉達(dá)提供給其合作廠商(AIB)的散熱設(shè)計(jì)指導(dǎo)存在疏漏,未能充分考慮理想散熱條件之外的情況
      、PCB 功率損耗及元件在高溫下的異常行為

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      如果這些問題未能解決

      ,顯卡的供電元件(如電容、MOSFETs)在持續(xù)高溫下會(huì)加速老化
      ,可能導(dǎo)致電壓不穩(wěn)定
      、崩潰、焊點(diǎn)劣化
      ,甚至縮短顯卡壽命
      ,提前發(fā)生故障。這令人聯(lián)想到 RTX 4090 電源接口熔毀事件
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